| 一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測驗(yàn)證方案 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大小：3868 K | |
| 標(biāo)簽： SOC 監(jiān)測 UVM | |
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| 文檔介紹：伴隨著目前SoC尺寸和復(fù)雜度的迅速增加，如何在系統(tǒng)層面實(shí)施充分完善的驗(yàn)證成為了一項(xiàng)重要挑戰(zhàn)。棘手的工作不但來自于對系統(tǒng)層面各項(xiàng)硬件資源的調(diào)度和測試場景實(shí)現(xiàn)，也來自于如何從復(fù)雜的系統(tǒng)運(yùn)行中獲得有用的信息。為了讓驗(yàn)證人員在仿真過程中及時掌握系統(tǒng)信息，提出一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測驗(yàn)證方案，基于UVM框架可以實(shí)時獲得多種系統(tǒng)狀態(tài)信息。該方案也是基于一種自動化的驗(yàn)證平臺并在此之上將監(jiān)測到的信息做了處理，以用來輔助驗(yàn)證人員更好地分析系統(tǒng)和定位問題。 | |
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