開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測(cè)試項(xiàng)目多，計(jì)算量大，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問(wèn)題一直困擾著工程師們，為了解決這些問(wèn)題，今天就帶您走進(jìn)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的新世界。

　　示波器電源測(cè)試分析主要實(shí)現(xiàn)使用示波器來(lái)對(duì)電源(開(kāi)關(guān)電源)進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，提高電源開(kāi)發(fā)人員的工作效率，方便對(duì)電源模塊進(jìn)行測(cè)試。主要涉及開(kāi)關(guān)電源(AC/DC)有關(guān)測(cè)試。在大多數(shù)現(xiàn)代系統(tǒng)中，流行的 DC 電源結(jié)構(gòu)是開(kāi)關(guān)電源(SMPS)，這種電源因能夠高效處理負(fù)載變化而聞名。典型 SMPS 的電源信號(hào)路徑包括無(wú)源元件、有源元件和磁性元件。SMPS 最大限度地減少了有損耗的元件的使用量，如電阻器和線性模式晶體管，重點(diǎn)采用(在理想條件下)沒(méi)有損耗的元件，如開(kāi)關(guān)式晶體管、電容器和磁性元件。其主要構(gòu)成如圖 1所示。

　　開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試參數(shù)主要包括輸入端分析、輸出端分析、磁性元件分析、開(kāi)關(guān)器件分析、調(diào)制分析、環(huán)路分析等，如下表為進(jìn)入電源分析測(cè)試界面后，對(duì)于各個(gè)測(cè)試功能的測(cè)試項(xiàng)目。首先我們先以最常見(jiàn)的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試為例進(jìn)行講解。

　　一、開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試

　　1.測(cè)試原理

　　開(kāi)關(guān)電源的開(kāi)關(guān)器件總是工作在打開(kāi)或關(guān)閉狀態(tài)，可以提供更高的效率。理想情況下，開(kāi)關(guān)器件打開(kāi)和關(guān)閉是沒(méi)有損耗的。如圖2所示。

　　ON = 完全導(dǎo)通(理想情況下 V = 0, 意味著開(kāi)關(guān)損耗 P = V x I = 0)

　　OFF = 完全關(guān)閉(理想情況下 I = 0,意味著開(kāi)關(guān)損耗 P = V x I = 0)

　　但現(xiàn)實(shí)情況中，是在存功率損耗的。主要包括開(kāi)關(guān)損耗，傳導(dǎo)損耗。如下圖 3 所示。

　　針對(duì)功率損耗主要計(jì)算主要包括三部分之和：

　　導(dǎo)通過(guò)程損耗+關(guān)閉過(guò)程損耗+導(dǎo)通損耗

　　2.測(cè)試步驟

　　l開(kāi)關(guān)元件分析的接線示意圖如下圖4所示。其中通道 1 使用高壓差分電壓探頭接開(kāi)關(guān)的兩端，通道 2 使用電流探頭接開(kāi)關(guān)的一端

　　l調(diào)節(jié)好電流探頭和電壓探頭的探頭比率后，點(diǎn)擊【Analyze】進(jìn)入電源分析測(cè)試界面，在【功能】中選擇【開(kāi)關(guān)損耗】點(diǎn)擊【參數(shù)配置】進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面，如下圖5 所示。參數(shù)設(shè)置用于判定開(kāi)關(guān)的狀態(tài)，需要進(jìn)行設(shè)置的參數(shù)有電壓通道、電流通道、參考電壓、參考電流和導(dǎo)通計(jì)算選擇。

　　l計(jì)算結(jié)果表格如圖6所示。

　　圖6  開(kāi)關(guān)損耗測(cè)量結(jié)果