| 中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大?。?span>254 K | |
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| 文檔介紹：設(shè)計(jì)了一款針對(duì)學(xué)校實(shí)驗(yàn)室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測(cè)試儀。測(cè)試儀的核心AT89C55單片機(jī)管理和控制整個(gè)測(cè)試流程，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理、判斷，并通過(guò)LCD、LED顯示和指示其測(cè)試結(jié)果。詳細(xì)介紹了測(cè)試儀的總體設(shè)計(jì)思路，給出了ADC0809、DAC0832、 LM555、SG3524等芯片的詳細(xì)測(cè)試電路圖。 | |
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