| 一種UHF無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片阻抗測(cè)試方法研究 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大?。?span>232 K | |
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| 文檔介紹：提出一種用于UHF無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片阻抗測(cè)試的新方法。利用ADS仿真軟件對(duì)測(cè)試原理進(jìn)行了仿真并實(shí)際制作了測(cè)試板。利用設(shè)計(jì)的測(cè)試板對(duì)NXP_XM芯片和Impinj_Monza4芯片進(jìn)行了測(cè)試，分析了誤差產(chǎn)生的原因，最終測(cè)試結(jié)果符合預(yù)期效果。 | |
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