手機等電子設備的許多故障事實上是由于外太空的亞原子粒子造成的。

騰訊科學訊 據英國《每日快報》報道，美國范德堡大學的一項最新研究發現，計算機和手機的死機故障或許是由來自太陽系外的宇宙射線產生的帶電粒子造成的。范德堡大學的教授Bharat Bhuva稱這是一個大問題，但卻不為公眾了解。

研究發現，以接近光速傳輸的宇宙射線撞擊地球大氣層，產生了次級粒子瀑布。Bhuva教授稱，每秒鐘有數百萬個這種粒子撞擊人體，但是我們卻無法感知它們，而且它們對于生物體的害處我們還不得而知。但是當涉及到技術領域，它們就存在一定的消極影響了。

科學家們發現，只有一部分的帶電粒子能夠攜帶足夠的能量與微電子電路產生干涉。當它們與集成電路產生交互作用，它們就能夠導致儲存的數據信息產生單粒子翻轉（SEU）現象。研究中也提出，難以了解這些粒子何時何地會到來。它們的到來缺乏任何的有形破壞，它們引發的設備失靈也難以確定，因此確定SEU的發生幾率并不容易。

Bhuva教授解釋道：“當你遭遇一次亞原子粒子的侵襲，它有可能成為任何故障的起因。有可能是軟件故障，也有可能是硬件問題。你唯一可以確定這是一次SEU的方法就是排除其它所有可能的原因。”

雖然這些故障原因難以識別，但是SEU導致的問題通常是極其嚴重的。比如說，2003年的一次SEU導致比利時斯哈爾貝克鎮的電子投票機將4096張投票全部投給了一位候選人。人們在后來發現這位候選人獲得驚人的投票數后才發現這一故障。

據Bhuva教授稱：“在航空公司已經發生了許多無法解釋的小故障，其中一些被專家認定為必然由SEU造成。這些故障導致數百次航班被取消，并且造成巨大的經濟損失。半導體制造商也非常擔憂這一問題，因為故障對于他們來說更加嚴重。除此之外，微電子電路可以說無處不在，我們的社會正變得越來越依賴于它們。”（過客/編譯）