| 一種電子標(biāo)簽的加速壽命試驗(yàn)可靠性預(yù)測(cè)方法研究 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：3747 K | |
| 標(biāo)簽： 壽命加速 激活能 性能退化 | |
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| 文檔介紹：隨著微電子元器件設(shè)計(jì)能力和工藝技術(shù)的不斷發(fā)展，器件的可靠性和壽命不斷增加。射頻識(shí)別電子標(biāo)簽具有需求量大、應(yīng)用范圍廣、地域（使用溫度）跨度大等特點(diǎn)，這就對(duì)產(chǎn)品本身的可靠性提出了較高的要求，研究器件在高低溫下的退化特性具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。基于Arrhenius理論提出了一種快速計(jì)算電子標(biāo)簽激活能的方法，對(duì)電子標(biāo)簽進(jìn)行短時(shí)間的壽命加速試驗(yàn)，通過(guò)標(biāo)簽電場(chǎng)強(qiáng)度性能的退化數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)壽命情況，快速求解電子標(biāo)簽的激活能，進(jìn)而計(jì)算出不同溫度條件下的加速因子，為電子標(biāo)簽在不同壽命評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)下的加速試驗(yàn)時(shí)間提供理論依據(jù)。 | |
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