一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法
2023年電子技術(shù)應(yīng)用第1期
紀萍，徐小明，朱國林，季振凱
無錫中微億芯有限公司，江蘇 無錫 214072
摘要： 在S參數(shù)的測量過程中，需通過去嵌方法去除測試夾具帶來的結(jié)果誤差。該算法通過時域的方法對夾具進行分解。接著將分解得到的夾具S參數(shù)采用ABCD矩陣運算進行去除，從而得到待測器件的S參數(shù)。通過設(shè)計測試板來進行實驗，將該算法與傳統(tǒng)的AFR和Delta L方法進行了比較，驗證了該去嵌算法對高頻信號的有效性以及準確性。同時由于該算法先分解再去嵌的特性，使其可應(yīng)用于左右夾具不一致的情況。
中圖分類號：TN402
文獻標志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式： 紀萍，徐小明，朱國林，等. 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：130-134.
英文引用格式： Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：130-134.
文獻標志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式： 紀萍，徐小明，朱國林，等. 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：130-134.
英文引用格式： Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：130-134.
A method for de-embedding s-parameter with high-frequency
Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，Ji Zhenkai
Wuxi East Technologies Inc.， Wuxi 214072， China
Abstract： During the measurement of s-parameters, using the de-embedding method to remove the influence of fixture is important. The proposed method decomposes the s-parameter of fixture by time domains. Then the ABCD matric is used to remove the decomposed fixture and get the s-parameter of device under test. By designing printed circuit board to do some experiments, and compare the proposed method with the other two traditional methods, AFR and Delta L. The results prove that this method is valid and accurate under high-frequency signal. Due to the facture that the algorithm decomposes first and then de-embeds, it can be applied to the situation that the left and right fixture are different.
Key words : s-parameter；de-embedding；high-frequency；ABCD matric
0 引言
隨著高速傳輸信號速率的不斷增高，印制電路板（PCB）的信號完整性研究對整個通信系統(tǒng)的電氣性能來說至關(guān)重要[1]。其中對PCB高速信號質(zhì)量的測量和管控是信號完整性研究中的重要一環(huán)。S參數(shù)是利用頻域來描述高速信號通道特性的一種方式，可通過S參數(shù)提取插入損耗、回波損耗、串擾等信息來對信號的質(zhì)量進行評價[2]。
在利用儀器對S參數(shù)進行測量時，因為待測器件（DUT）的接口與測試儀器的接口不一致，需要通過夾具進行連接，而夾具的存在會影響測試結(jié)果。如何準確地去除夾具的影響，得到想要的DUT的S參數(shù)是一個值得研究的課題[3]。
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作者信息：
紀萍，徐小明，朱國林，季振凱
（無錫中微億芯有限公司，江蘇 無錫 214072）
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