??? 首屈一指的半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷" title="惠瑞捷">惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司（Verigy Ltd.）針對(duì)65納米和更小制程所生產(chǎn)之先進(jìn)數(shù)字IC的晶圓測(cè)試（Wafer Sort）及終程測(cè)試（Final Test），推出可執(zhí)行結(jié)構(gòu)及功能測(cè)試的V93000納米電子" title="納米電子">納米電子數(shù)字信號(hào)" title="數(shù)字信號(hào)">數(shù)字信號(hào)測(cè)試解決方案（Nanoelectronics Digital Solution）。納米電子數(shù)字信號(hào)測(cè)試解決方案可提供準(zhǔn)確的診斷及參數(shù)數(shù)據(jù)，協(xié)助制造商找出新的故障模式（Failure Mechanism），以提高65納米和更小制程的生產(chǎn)良率" title="良率">良率，這是轉(zhuǎn)進(jìn)更小節(jié)點(diǎn)的新式工藝時(shí)，會(huì)面臨的主要挑戰(zhàn)。新設(shè)計(jì)將能大大受惠于這套解決方案提供的深入信息，且測(cè)試的效率極高，能以最低的測(cè)試成本（CoT），加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。?

??? 惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司業(yè)務(wù)與服務(wù)支持副總裁Pascal Ronde表示：“納米電子的時(shí)代挑戰(zhàn)了我們對(duì)測(cè)試在生產(chǎn)流程中扮演之角色的傳統(tǒng)認(rèn)知。自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備不再只是一個(gè)判定合格/不合格的工具，而是逐漸成為提升大量生產(chǎn)良率的關(guān)鍵工具。我們新推出的解決方案可以讓V93000的使用者搜集到測(cè)試納米電子所需的準(zhǔn)確診斷及參數(shù)數(shù)據(jù)，其多點(diǎn)（Multi-site）的測(cè)試效率更樹立了生產(chǎn)力的新標(biāo)準(zhǔn)。”?

????隨著工藝節(jié)點(diǎn)轉(zhuǎn)進(jìn)65納米或更小的等級(jí)，制造商也面臨新型態(tài)故障模式帶來的測(cè)試挑戰(zhàn)，例如轉(zhuǎn)變引起的故障（Transition Fault）和橋接引起的故障（Bridging Fault）、設(shè)計(jì)流程互動(dòng)特性、以及晶粒內(nèi)（Inter-die）和晶粒間（Intra-die）的變異（Variation）等。掃描向量的數(shù)量越來越多，加上芯片內(nèi)壓縮及內(nèi)建自我測(cè)試能力（BIST）等結(jié)構(gòu)的使用更為普遍，更加重了測(cè)試的挑戰(zhàn)。除了整合高性能的模擬和直流電路的復(fù)雜度之外，尺寸變小、電壓更低和速度更高的要求通常也會(huì)一并出現(xiàn)，使得量測(cè)" title="量測(cè)">量測(cè)的準(zhǔn)確度變得更加重要。納米電子一開始的良率較難掌握，因此量測(cè)準(zhǔn)確度的重要性更甚以往，唯有準(zhǔn)確的量測(cè)結(jié)果，才能拉近測(cè)試和設(shè)計(jì)間的落差，加快良率學(xué)習(xí)和改善的過程。 ?

????惠瑞捷了解擁有合適解決方案的必要性：一方面可提供最充足、深入的信息，同時(shí)又能達(dá)到最高的生產(chǎn)效率，包括能快速地將數(shù)據(jù)從測(cè)試系統(tǒng)轉(zhuǎn)出，以進(jìn)行量產(chǎn)良率的分析診斷。這樣的解決方案可以讓制造商充分利用最新測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)，例如更多組件的測(cè)試能力、減少所需的測(cè)試接腳數(shù)、以及循環(huán)（Loop-back）測(cè)試方法，在此同時(shí)，也能減少數(shù)據(jù)搜集量到僅限于最相關(guān)的信息。?

整合式硬件可提供最快的速度?

??? 可插入惠瑞捷V93000測(cè)試頭使用的單槽模塊卡每平方公分包含的功能居業(yè)界之冠，有助于縮小測(cè)試系統(tǒng)的體積和降低成本。V93000納米電子數(shù)字信號(hào)測(cè)試解決方案包含下列以超小型測(cè)試頭為基礎(chǔ)的配置：?

o?Pin Scale 400數(shù)字信號(hào)量測(cè)模塊卡，可將DC IO提高到533 Mbps；?

o?整合式大量故障數(shù)據(jù)擷取能力和超快速的數(shù)據(jù)傳輸速度；?

o?DC Scale DPS32 － 每片模塊卡內(nèi)建32個(gè)量測(cè)通道，可同時(shí)測(cè)試多個(gè)組件的多個(gè)功耗域（Power Domain）、以及進(jìn)行快速的同步觸發(fā)，以提高穩(wěn)定一致性和提供最快的量測(cè)速度；?

o?STIL連結(jié)軟件套件；?

o?每支管腳都整合了TIA。?

?

詳細(xì)信息可查詢www.verigy.com/go/NanoDigital網(wǎng)站。 ?

?

Verigy V93000簡(jiǎn)介?

????????? ?

????Verigy V93000是一套可擴(kuò)充的機(jī)臺(tái)架構(gòu)，能用以測(cè)試系統(tǒng)單芯片（SoC）、系統(tǒng)級(jí)封裝（SIP）、以及高速內(nèi)存組件。V93000在全球安裝的系統(tǒng)數(shù)已超過1,500套，不論是進(jìn)行全速（At-speed）的工程特性量測(cè)或是大量的生產(chǎn)制造，都能解決業(yè)者在性能及成本上面臨的嚴(yán)苛挑戰(zhàn)。這套測(cè)試系統(tǒng)可提供大規(guī)模的多點(diǎn)測(cè)試能力，能支持高達(dá)12.8 Gbps的數(shù)據(jù)速率 ，以及各種數(shù)字、混合信號(hào)及射頻（RF）的應(yīng)用。V93000可降低蜂巢式、WLAN、WiMAX及UWB等無線通訊應(yīng)用的測(cè)試成本。?

?

惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司簡(jiǎn)介?

?

??? 惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司專精于設(shè)計(jì)、開發(fā)、生產(chǎn)及銷售半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的內(nèi)存和系統(tǒng)級(jí)芯片市場(chǎng)所需的先進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)與解決方案，以及提供相關(guān)的服務(wù)。全球許多知名的半導(dǎo)體公司皆采用惠瑞捷的可擴(kuò)充機(jī)臺(tái)系統(tǒng)，進(jìn)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證、特性量測(cè)、以及大量生產(chǎn)測(cè)試。惠瑞捷先前為安捷倫科技旗下的事業(yè)群，2006年6月1日起開始以惠瑞捷科技有限公司之名獨(dú)立營(yíng)運(yùn)，并于2006年6月13日在美國(guó)完成股票上市。有關(guān)惠瑞捷公司更詳細(xì)的信息，可查詢www.verigy.com網(wǎng)站。