| 一種基于MCU芯片的FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì) | |
| 所屬分類(lèi)：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：567 K | |
| 標(biāo)簽： MCU芯片 FPGA原型 驗(yàn)證平臺(tái) | |
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| 文檔介紹：為了縮短MCU芯片開(kāi)發(fā)周期，提出了一種基于MCU芯片F(xiàn)PGA原型驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)。該設(shè)計(jì)是將傳統(tǒng)FPGA原型驗(yàn)證過(guò)程中使用FPGA的RAM原型替換程序存儲(chǔ)單元，改為使用FPGA雙端口RAM替換。其中一個(gè)端口控制按照傳統(tǒng)的接入方法,另一端口控制信號(hào)接到專門(mén)的控制邏輯上，獨(dú)立控制，而且不影響原MCU芯片功能。該方法不僅節(jié)省多次FPGA綜合實(shí)現(xiàn)的時(shí)間,而且可以靈活實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)RAM，方便查錯(cuò)。同時(shí)該方法具有通用性，可移植到類(lèi)似的SoC系統(tǒng)架構(gòu)FPGA原型驗(yàn)證系統(tǒng)中去。 | |
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