| 基于ATE的千級數量管腳FPGA多芯片同測技術 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>3523 K | |
| 標簽： 現場可編程門陣列 自動化測試系統 多芯片同測 | |
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| 文檔介紹：隨著超大規模FPGA芯片技術發展，芯片管腳數量提升到1 000以上，如何實現超大規模多引腳FPGA芯片高效測試成為ATE在線測試難點。針對一款千級數量管腳超大規模的FPGA芯片，基于FPGA的可編程特性，采用多芯片有效pin功能并行測試和單芯片全pin電性能參數測試相結合的方法進行ATE測試，實現了千級數量管腳FPGA芯片的4芯片同測，測試效率提升3倍多。 | |
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